扫描电镜（扫描电镜是用来测什么的）
摘要：
投射电镜和扫描电镜的异同扫描电镜怎么看参数扫描电镜与透射电镜的区别扫描电镜工作原理扫描电镜的工作原理是怎样的投射电镜和扫描电镜的异同透射电镜使用的信号是forward scatte... 投射电镜和扫描电镜的异同
透射电镜使用的信号是forward scattering electrons，而扫描电镜使用的是backward scattering electrons。
前者分辨率较后者高，如2010能够达到2.3nm左右，可得到高分辨率图像，观察位错孪晶等，而后者一般用于观察样品表面形貌，由于扫描电镜景深较大，所以图像立体感强。此外，投射电镜很大一部分时间都花在样品的制备上了，做到几十个微米薄；而相比较扫描电镜样品制备较简单。
扫描电镜怎么看参数
扫描电镜通过控制扫描区域的大小来控制放大率的看参数，EHT=20.00kV即加速电压20kV;WD=8.2mm，即工作距离8.2mm;Mag=7.94KX即放大倍数7940倍;Signal A=SE2即用SE2探测器。
扫描电镜与透射电镜的区别
1 扫描电镜和透射电镜是两种不同的电子显微镜，它们的工作方式和用途不同。
2 扫描电镜可以在高分辨率下观察样品的表面形态和微小结构，如纹理、坑洼、凸起等。
而透射电镜则可以观察样品的内部结构，如晶格、原子间距等。
3 就操作方式而言，扫描电镜需要以样品表面为工作区域，逐步扫描出图像，而透射电镜则需要将样品薄片放在玻璃网格上，通过电子束穿透样品并形成透射电子图像。
4 此外，由于透射电镜需要非常薄的样品制备，因此其操作难度和样品制备成本也较高，而扫描电镜则相对较易操作和制备，所以广泛应用于材料科学、生命科学、环境科学等领域。
分辨率不一样。
扫描电镜和透射电镜都是看物体形貌的材料测试手段，不同的是扫描电镜收集的是二次电子也就是电子束反射回来的信息，透射电镜收集的是电子束透过的信息。
透射电镜的分辨率要比扫描电镜大，同时透射电镜还可以检测物质的相结构已经晶型（多晶，单晶），而扫描电镜不可以
扫描电镜工作原理
扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面，从而获得样品信息的电子显微镜。所以其使用电子束为照明源，电子束在样品表面扫描，利用电子和物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。
判断扫描电镜性能主要依据分辨率和有效放大倍数。分辨率即能够分辨的小距离。
扫描电镜利用电子束扫描样品表面，探测样品表面的反射电子、二次电子、透射电子等信号，将其转化为电信号，经过电子光学系统成像，得到高分辨率的样品表面形貌和微观结构信息。
扫描电镜的工作原理是怎样的
扫面电镜（SEM）的工作原理通俗点讲，就是高能电子束轰击样品，产生各种信号（二次电子，背散射电子），这些信号被探测器收集并成像。
下面我们就用图片加文字的方式把成像原理详细介绍下：
1 扫描电镜的构造
扫描电镜主要由五大系统组成，即电子光学系统，扫描系统，信号收集系统，成像和记录系统，真空和电源系统。
- 电子光学系统：由电子枪，聚光镜，物镜和样品室组成，将来自电子枪的电子束聚焦成直径小亮度高的入射电子束。
- 扫描系统：主要是指扫描线圈，使入射电子束在样品表面扫描和调节放大倍数。
- 信号收集系统：电子收集器将各种物理信号收集起来，通过光电倍增管等组件使得光信号转换为电信号。
- 图像显示和记录系统：将电信号成比例的转换为阴极射线管（LED）电子束强度的变化，这样在显示器上得到一副黑白扫描像，可用CCD照相记录下来。
- 真空系统和电源系统：电子束需要真空环境，因为空气中的各种粒子会散射大量的入射电子，导致成像质量下降。
2 扫描电镜的工作过程
电子枪加高电压，电子被牵引逸出形成电子束，电子束在电磁透镜（聚光器）的聚焦作用下形成更细的聚焦电子束。电子束以光栅的模式扫描样品表面。此时产生各种物理信号：二次电子，背散射电子，透射电子，吸收电子，俄歇电子和特征X射线。信号被收集处理，最终成像。
3 扫描电镜产生的信号
电子与样品相互作用产生各种电子信号，其中最重要的三个信号是二次电子SE，背散射电子BSE，特征X射线。
- 背散射电子是被样品中原子反射回来的入射电子。它来自于样品较深层区域，对原子序数特别敏感，原子序数越大，图像就越亮。
- 二次电子是被入射电子轰击出来的样品核外电子。它来自于样品表面区域，可用于表面形貌观察，图像立体感很强。
- 特征X射线是原子内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的电磁辐射。用于样品成分定性和定量分析。
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