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扫描电镜(扫描电镜是用来测什么的)
投射电镜和扫描电镜的异同
透射电镜使用的信号是forward scattering electrons,而扫描电镜使用的是backward scattering electrons。
前者分辨率较后者高,如2010能够达到2.3nm左右,可得到高分辨率图像,观察位错孪晶等,而后者一般用于观察样品表面形貌,由于扫描电镜景深较大,所以图像立体感强。此外,投射电镜很大一部分时间都花在样品的制备上了,做到几十个微米薄;而相比较扫描电镜样品制备较简单。
扫描电镜怎么看参数
扫描电镜通过控制扫描区域的大小来控制放大率的看参数,EHT=20.00kV即加速电压20kV;WD=8.2mm,即工作距离8.2mm;Mag=7.94KX即放大倍数7940倍;Signal A=SE2即用SE2探测器。
扫描电镜与透射电镜的区别
1 扫描电镜和透射电镜是两种不同的电子显微镜,它们的工作方式和用途不同。
2 扫描电镜可以在高分辨率下观察样品的表面形态和微小结构,如纹理、坑洼、凸起等。
而透射电镜则可以观察样品的内部结构,如晶格、原子间距等。
3 就操作方式而言,扫描电镜需要以样品表面为工作区域,逐步扫描出图像,而透射电镜则需要将样品薄片放在玻璃网格上,通过电子束穿透样品并形成透射电子图像。
4 此外,由于透射电镜需要非常薄的样品制备,因此其操作难度和样品制备成本也较高,而扫描电镜则相对较易操作和制备,所以广泛应用于材料科学、生命科学、环境科学等领域。
分辨率不一样。
扫描电镜和透射电镜都是看物体形貌的材料测试手段,不同的是扫描电镜收集的是二次电子也就是电子束反射回来的信息,透射电镜收集的是电子束透过的信息。
透射电镜的分辨率要比扫描电镜大,同时透射电镜还可以检测物质的相结构已经晶型(多晶,单晶),而扫描电镜不可以
扫描电镜工作原理
扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面,从而获得样品信息的电子显微镜。所以其使用电子束为照明源,电子束在样品表面扫描,利用电子和物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。
判断扫描电镜性能主要依据分辨率和有效放大倍数。分辨率即能够分辨的小距离。
扫描电镜利用电子束扫描样品表面,探测样品表面的反射电子、二次电子、透射电子等信号,将其转化为电信号,经过电子光学系统成像,得到高分辨率的样品表面形貌和微观结构信息。
扫描电镜的工作原理是怎样的
扫面电镜(SEM)的工作原理通俗点讲,就是高能电子束轰击样品,产生各种信号(二次电子,背散射电子),这些信号被探测器收集并成像。
下面我们就用图片加文字的方式把成像原理详细介绍下:
1 扫描电镜的构造
扫描电镜主要由五大系统组成,即电子光学系统,扫描系统,信号收集系统,成像和记录系统,真空和电源系统。
- 电子光学系统:由电子枪,聚光镜,物镜和样品室组成,将来自电子枪的电子束聚焦成直径小亮度高的入射电子束。
- 扫描系统:主要是指扫描线圈,使入射电子束在样品表面扫描和调节放大倍数。
- 信号收集系统:电子收集器将各种物理信号收集起来,通过光电倍增管等组件使得光信号转换为电信号。
- 图像显示和记录系统:将电信号成比例的转换为阴极射线管(LED)电子束强度的变化,这样在显示器上得到一副黑白扫描像,可用CCD照相记录下来。
- 真空系统和电源系统:电子束需要真空环境,因为空气中的各种粒子会散射大量的入射电子,导致成像质量下降。
2 扫描电镜的工作过程
电子枪加高电压,电子被牵引逸出形成电子束,电子束在电磁透镜(聚光器)的聚焦作用下形成更细的聚焦电子束。电子束以光栅的模式扫描样品表面。此时产生各种物理信号:二次电子,背散射电子,透射电子,吸收电子,俄歇电子和特征X射线。信号被收集处理,最终成像。
3 扫描电镜产生的信号
电子与样品相互作用产生各种电子信号,其中最重要的三个信号是二次电子SE,背散射电子BSE,特征X射线。
- 背散射电子是被样品中原子反射回来的入射电子。它来自于样品较深层区域,对原子序数特别敏感,原子序数越大,图像就越亮。
- 二次电子是被入射电子轰击出来的样品核外电子。它来自于样品表面区域,可用于表面形貌观察,图像立体感很强。
- 特征X射线是原子内层电子受到激发后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的电磁辐射。用于样品成分定性和定量分析。
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